產品名稱及型號:熒光測厚儀 XDL 210
制造商:三思永恒科技(浙江)有限公司
說明:圖片僅供參考,您訂的機器可能與圖不全一致
一、產品主要功能及應用領域:
XDL 210 熒光測厚儀主要用于貴金屬加工和首飾加工行業、銀行、首飾銷售和第三方檢測機構以及電鍍行業無損檢測鐵鍍鋅、鐵鍍鉻、銅鍍鋅、銅鍍鎳、銅鍍金等各類金屬鍍層厚度測試。
二、技術參數:
1、元素分析范圍:從硫(S)到鈾(U);
2、一次可同時分析3層以上鍍層;
3、鍍層厚度分析檢出限可達0.01μm;
4、探測器能量分辨率為145±5eV;
5、配置小孔準直器,測試光斑在0.1mm以內;
6、長期工作穩定性為0.1μm(對于小于1μm的最外層鍍層);
7、多次測量重復性可達0.1μm(對于小于1μm的最外層鍍層);
8、分析厚度一般為0.1μm到50μm之間(視材料而不同);
9、應用于金屬電鍍層厚度的測量,如Zn/Fe、Ni/Fe、Ni/Cu、Sn/Cu、Ag/Cu、Ni/Cu/Fe、Au/Ni/Cu等;
